金鼎工业资源网
您现在的位置:金鼎工业资源网>> 数据中心 专题资料>>正文内容

测厚仪结构原理技术资料


本套《测厚仪结构原理技术资料》含详细的技术原理及工艺制造流程,设备类含有图纸(PDF格式),全套售价人民币260元。

图1:一种测厚仪

1、测厚仪
[摘要]  本技术提供一种测厚仪,包括:固定架、气缸、升降测板及测量表。该固定架顶面为一个设有通孔的固定板,底侧为一个底板,且该固定架内侧有一个测量空间。该气缸设置于该固定架上,且该气缸的推柱穿过该固定板的通孔伸入该测量空间。该升降测板平行设置于该固定板及该底板之间,该升降测板顶面与该气缸的推柱连接;该测量被测物厚度的测量表,设置于升降测板一侧。该测厚仪相比手工测量精度高、效率高,而相对于杠杆式测厚仪原理方便,操作简单,省力,制作方便。
2、一种测厚仪
[摘要]  一种测厚仪,包括:X射线高压电源,X射线管,X射线探测传感器,与所述X射线探测传感器相连的厚度检测拟合单元,所述X射线高压电源的第一输出端与所述X射线管的阳极相连,用于向所述X射线管阳极输入可调节直流高压;所述X射线高压电源的第二输出端与所述X射线管的阴极灯丝相连,用于向所述X射线管的阴极灯丝输入可调节交流电流。用户可通过对所述X射线高压电源输出的可调节直流高压和可调节交流电流的大小进行调节,进而调节X射线管的输出的射线强度和射线能谱,所述射线能谱的调节可使得所述被测物体所吸收的粒子数量减少,使得X射线穿过被测物体后的剩余射线强度与板材厚度更趋近于指数递减规律,提高了测量精度。
3、一种测厚仪
[摘要]  本技术涉及检测设备技术领域,尤其是指一种测厚仪,包括机座、上测厚机构、下测厚机构、上位移测量器及测厚驱动机构,上测厚机构设置有上探头,下测厚机构设置有与上探头同轴设置的下探头,上探头与下探头配合以对物料的厚度进行测量,机座的顶部装设有上基准块,上探头远离下探头的一端用于与上基准块的基准面抵触。自动化程度高,能够自动化地对物料的厚度进行测量,上探头和下探头采用点对点式对物料的待测量位置进行厚度测量,且每次对物料进行测量厚度之前都能够自动化校准,通过上位移测量器所测量的位移差值来确定物料的厚度,避免了因上探头和下探头磨损而产生测量的误差,保证了测量厚度的精度和准确性。
4、智能测厚仪
[摘要]  一种智能测厚仪,上检测滚轮和下检测滚轮均通过底座滑动安装在检测升降导轨上;上检测滚轮的底座和下检测滚轮的底座通过弹簧安装在机架上,以使上检测滚轮和下检测滚轮之间检测点浮动;还设有用于检测上检测滚轮和下检测滚轮之间或者上检测滚轮和下检测滚轮的底座之间间隙的检测头。与检测头连接的控制装置在上检测滚轮和下检测滚轮不检测时,随时对测量零点进行校正。本技术通过采用浮动的检测点结构,实现在线厚度检测,即直接在生产过程中实时检测工件的厚度,然后根据检测的厚度值,再确定磨削加工的参数。采用浮动的检测点结构还可以适应工件厚度规格的变化。通过随时对测量零点进行校正,避免了传感器零点漂移对测量精度的影响。
5、激光测厚仪
[摘要]  本技术公开了一种激光测厚仪,用以对电池极片的厚度进行测量,其包括测量组件和穿带组件。测量组件包括位置调整器和设于位置调整器上的感应器,电池极片安装于穿带组件上,感应器对电池极片的厚度进行测量,测量组件跨设于穿带组件。相对于现有技术,本技术激光测厚仪具有测量精度高和稳定性好的优点。
6、透镜测厚仪
[摘要]  一种透镜测厚仪,用于测量透镜的中心肉厚,其包括一个接触头及与接触头相对的透镜承载体。该透镜承载体用于承载该透镜,该接触头用于配合透镜承载体将透镜固持在该接触头与透镜承载体之间。该接触头具有一第一吻合面,该透镜承载体具有一第二吻合面。该第一吻合面与第二吻合面正对,且分别具有与该透镜的两相对表面相吻合的形状。在测量透镜中心肉厚时,该第一吻合面和第二吻合面分别与透镜的两相对表面紧密接触。使用该透镜测厚仪时,透镜的受力面积较大,从而可避免透镜局部受力产生形变而造成的测量误差。
7、激光测厚仪
[摘要]  本技术属于线性尺寸测量技术领域,涉及一种物体厚度测量仪器,是一种激光测厚仪。该测厚仪包括激光器、视频信号处理器、微机终端处理系统,为适应高频率测量条件,本技术采取电荷耦合器件(CCD)摄像系统作光电转换装置;该技术便于贮存和显示测量数据,适用于任何材料构成的物体厚度的测量,测量温度可达900℃,适用于环境较恶劣的生产线上运行速度较高的冷轧或热轧钢板的厚度的测量,也可用于识别物体表面的凸凹形状。
8、透镜测厚仪
[摘要]  一种透镜测厚仪,用于测量透镜的中心肉厚,其包括一个接触头及与接触头相对的透镜承载体。该透镜承载体用于承载该透镜,该接触头用于配合透镜承载体将透镜固持在该接触头与透镜承载体之间。该接触头具有一第一吻合面,该透镜承载体具有一第二吻合面。该第一吻合面与第二吻合面正对,且分别具有与该透镜的两相对表面相吻合的形状。在测量透镜中心肉厚时,该第一吻合面与第二吻合面的中心分别与透镜的两相对表面的中心相对应,该第一吻合面和第二吻合面分别与透镜的两相对表面紧密接触。使用该透镜测厚仪时,透镜的受力面积较大,从而可避免透镜局部受力产生形变而造成的测量误差。
9、智能测厚仪
[摘要]  一种智能测厚仪,上检测滚轮和下检测滚轮均通过底座滑动安装在检测升降导轨上;上检测滚轮的底座和下检测滚轮的底座通过弹簧安装在机架上,以使上检测滚轮和下检测滚轮之间检测点浮动;还设有用于检测上检测滚轮和下检测滚轮之间或者上检测滚轮和下检测滚轮的底座之间间隙的检测头。与检测头连接的控制装置在上检测滚轮和下检测滚轮不检测时,随时对测量零点进行校正。本技术通过采用浮动的检测点结构,实现在线厚度检测,即直接在生产过程中实时检测工件的厚度,然后根据检测的厚度值,再确定磨削加工的参数。采用浮动的检测点结构还可以适应工件厚度规格的变化。通过随时对测量零点进行校正,避免了传感器零点漂移对测量精度的影响。
10、激光测厚仪
[摘要]  本技术公开了一种激光测厚仪,用以对电池极片的厚度进行测量,其包括测量组件和穿带组件。测量组件包括位置调整器和设于位置调整器上的感应器,电池极片安装于穿带组件上,感应器对电池极片的厚度进行测量,测量组件跨设于穿带组件。相对于现有技术,本技术激光测厚仪具有测量精度高和稳定性好的优点。
13、激光测厚仪
[摘要]  本技术属于线性尺寸测量技术领域,涉及一种物体厚度测量仪器。是一种激光测厚仪。该测厚仪包括激光器、视频信号处理器、微机终端处理系统,为适应高频率测量条件,本技术采取电荷耦合器件(CCD)摄像系统作光电转换装置,该技术便于贮存和显示测量数据,适用于任何材料构成的物体厚度的测量,测量温度可达900℃,适用于环境较恶劣的生产线上运行速度较高的冷轧或热轧钢板的厚度的测量,也可用于识别物体表面的凸凹形状。
14、炉衬测厚仪
[摘要]  本技术系一种新型炼钢炉衬测厚装置。它利用γ射线被炉衬吸收后强度衰减规律进行测量的。为了使探测器恒温,测量过程探测器置于循环水夹层内。特殊设计的源装置可以使准直的γ射线束扫过炉衬任何位置。为了遥控测量,设计出新型跟踪爬行器,它可以跟踪γ射线束并对射线强度进行计数。此爬行器也可用于其他附着器壁爬行装置应用中。工作人员遥控操作。本仪器具有造价低廉、易于操作、维修和好于国际水平的精度等优点。见示意图(1)。
15、一种测厚仪
[摘要]  本技术公开了一种测厚仪,所述底座的侧面设置有防护罩,防护罩能保护安全,同时也能隔绝外界环境,减小外界环境变化对测量产生的影响,所述测厚仪还包括超声波探头校准装置,可以对超声波探头进行校准,从而保证测量的精确度,所述步进电机上设置有防尘罩,可以延长步进电机的使用时长,所述C形架和直线导轨之间设置有垫板,可以减少振动带来的影响,该测厚仪具有使用时间长以及精确度高的优点,前景广阔。
16、一种测厚仪
[摘要]  一种测厚仪,包括:X射线高压电源,X射线管,X射线探测传感器,与所述X射线探测传感器相连的厚度检测拟合单元,所述X射线高压电源的第一输出端与所述X射线管的阳极相连,用于向所述X射线管阳极输入可调节直流高压;所述X射线高压电源的第二输出端与所述X射线管的阴极灯丝相连,用于向所述X射线管的阴极灯丝输入可调节交流电流。用户可通过对所述X射线高压电源输出的可调节直流高压和可调节交流电流的大小进行调节,进而调节X射线管的输出的射线强度和射线能谱,所述射线能谱的调节可使得所述被测物体所吸收的粒子数量减少,使得X射线穿过被测物体后的剩余射线强度与板材厚度更趋近于指数递减规律,提高了测量精度。
17、球坑测厚仪
[摘要]  本技术涉及一种镀层厚度测量仪器,属于材料测试技术领域。目的是提供提供一种镀层厚度测量仪,该测量仪具有检测精确快速、测量形象直观、操作简单方便的特点。本技术的技术方案:球坑测厚仪,由机械研磨单元和检测单元组成;所述的机械研磨单元包括一水平定位在底座上且由电机驱动的转轴、一定位在底座上用于固定被测样品的试样架以及可转动地定位在转轴与试样架之间且由转轴驱动的磨球;所述的检测单元包括一光学显微镜。
18、一种激光测厚仪
[摘要]  本技术属于测厚仪领域,并公开了一种激光测厚仪,包括C形架以及共同安装在所述C形架上的激光器、感光元件、分束镜、第二上反射镜、第二下反射镜、第一上反射镜、第一下反射镜、上透镜和下透镜,所述第一上反射镜和第一下反射镜关于水平对称面对称设置,所述第二上反射镜和第二下反射镜关于所述水平对称面对称设置,所述上透镜和下透镜关于所述水平对称面对称设置并且两者均为凸透镜,所述分束镜平行于所述水平对称面设置。本技术有效解决了上下两激光不同步的问题,使得测量更稳定、精确,且节省了制造成本。
19、无损探伤测厚仪
[摘要]  本技术公开了一种无损探伤测厚仪,控制电脑通过A/D转换器控制X光射线源发射X光射线,X光线发射面外活动设有待测物夹具,待测物可固定定位于待测物夹具中,待测物夹具的轴向中心线与X光线发射面平行,数字平板图像产生器设于待测物夹具背离X光射线源的一面外,数字平板图像产生器可捕捉穿过待测物后的X光射线并形成图像,数字平板图像产生器通过图像采集卡将图像传输到控制电脑,控制电脑将该图像显示在图形界面显示屏上,实际操作时利用已知尺寸的物体来界定图形界面显示屏每一像素的尺寸,通过待测物被捕捉的图形的像素面阵的明暗边缘,来精确换算出待测物的尺寸及各边缘间的厚度,从而得到所需的厚度。
20、恒速下降测厚仪
[摘要]  本技术公开了一种恒速下降测厚仪,包括控制机构和测量头,所述控制机构包括手轮、连接轴和传动装置,传动装置与测量头固连,并带动测量头上下移动;连接轴一端连接手轮,一端设有阻尼器,连接轴中部穿过传动装置并与其固连。本技术结构简单,通过机械方式实现了测厚仪上测量头恒速下降,且无需耗费电能。
21、水下涂层测厚仪
[摘要]  本技术涉及测量仪器类,具体的讲是涉及一种用于水下测量铁基体的涂层厚度的水下涂层测厚仪,该仪器采用封闭外壳、远程控制,在壳体的一端固定连接有探头,且壳体上安装固定有接插件,并且在外壳与各组件之间设置密封圈,结构简单,设备的强度和水密性能可满足水下100米的使用要求,仪器装有探头自动定位结构和远程控制功能,不仅可供潜水员使用,还可供水下机器人(ROV)使用,功能齐全、操作方便,测量具有较好的稳定性和较高的精度。
22、一种薄膜测厚仪
[摘要]  本技术公开了薄膜测厚技术领域的一种薄膜测厚仪,包括安装底座和薄膜测厚机构,所述薄膜测厚机构设置在安装底座上;本技术通过在安装底座上设置薄膜测厚机构,可实现持续性的薄膜厚度测试,进行测厚前平整时,通过撑平辊受薄膜压力推动移动杆下移,使第二接电片和第一接电片脱离,进而控制直线电机停机位置,使薄膜处于绷紧且不会变形的状态,随后测厚过程中薄膜一直处于平整状态,实现了薄膜测厚仪在测厚前和测厚过程中都能对薄膜实现整平的功能,保证了光源探头、接收探头、控制器和显示屏配合测试厚度的精准性。


金鼎工业资源网-版权所有
成都运营中心
Tel:028-87023516   Mob(+86) 18980857561 /18190762281
中国 成都 高新区创业路18号
电邮:853136199@qq.com